2017: Анонс модели
18 июля 2017 года японская компания Shimadzu Corporation объявила о выходе нового сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) SPM-8100FM. Устройство является обновленной версией предыдущей модели SPM-8000FM, выпущенной в 2014 году и ставшей первой в мире системой СЗМ, обеспечивающей такую же высокую четкость изображения при исследовании в воздухе или жидкости, как в вакууме.
Среди достоинств новинки производитель указывает впятеро более короткое время захвата изображения, вчетверо более широкий диапазон сканирования (максимальный диапазон сканирования по осям XY составляет 10 мкм), сверхвысокое разрешение изображения при исследовании в воздухе или жидкостях, эквивалентное сканированию в вакууме.
SPM-8100FM относится к классу атомно-силовых микроскопов, который позволяет изучать структуру поверхностей образцов на нанометровом уровне и получить цифровое трёхмерное изображение атомарной решётки.
С помощью сканирующего зондового микроскопа SPM-8100FM можно получить высокочеткое изображение поверхности образцов из металлов, полупроводников, органических полимеров, биологических материалов и т. д. Также устройство предназначено для изучения структуры поверхности раздела твердой и жидкой фаз.Российский рынок облачных ИБ-сервисов только формируется 2.6 т
В дополнение к улучшенным параметрам разрешения и времени получения изображения производитель расширил программные возможности устройства для повышения его функциональности. В частности, усовершенствована система сближения зонда с образцом и уменьшен риск столкновения зонда с поверхностью. Среди других полезных новшеств - отображение на дисплее сигнала, соответствующего движению зонда, а также поддержка двух мониторов.
Как заверяет производитель, нововведения делают сканирующий зондовый микроскоп SPM-8100FM более удобным и простым в использовании и позволят персоналу быстрее освоить оборудование[1].
Примечания