| Компания: | Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН |
Всероссийская научно-техническая конференция "Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем" посвящена актуальным вопросам автоматизации проектирования МЭС, систем на кристалле, IP-блоков и новой элементной базы микро- и наноэлектроники. Эти вопросы были и остаются актуальными для науки и техники, о чем свидетельствует тематика соответствующих крупнейших ежегодных международных конференций по САПР и разработке микро- и наноэлектронной аппаратуры.
Область интересов конференции включает (но не ограничена) следующие темы актуальных исследований проектирования СБИС и методов автоматизации проектирования СБИС:
- Схемы и системы нанометровых технологий.
- Системы на кристалле.
- Проектирование цифровых СБИС.
- Проектирование аналоговых и радиотехнических функциональных блоков СБИС.
- Проектирование СБИС со смешанными сигналами.
- Методы структурного синтеза аналоговых, цифровых и смешанных СБИС и СФ блоков.
- Микромеханические системы.
- Специализированные (стойкие к спецвоздействиям, фоточувствительные и т.п.) СБИС.
- Фоточувствительные СБИС.
- Методы цифровой обработки информации.
- Методы высокоуровневого моделирования.
- Методы логического синтеза и логического моделирования в САПР СБИС.
- Методы электрического моделирования в САПР СБИС.
- Методы аналогового и смешанного поведенческого моделирования.
- Методы моделирования радиотехнических СБИС.
- Методы генерации моделей для САПР СБИС.
- Методы автоматического топологического проектирования в САПР СБИС.
- Методы приборно-технологического моделирования.
- Методы моделирования межсоединений.
- Методы проектирования и моделирования новых приборных структур и схем наноэлектроники.
- Проблемы образования и подготовки высокококвалифицированных специалистов в области микро- и наноэлектроники.
